Мультиметр тестер полупроводников ESR LCR большой LCD ЖК LCR-T7

ЖК экран 160х128 цветной Автоматическая идентификация радиоэлектронных компонентов (резистор, конденсатор, катушка индуктивности, диод, двойной диод, биполярный NPN, PNP транзистор, N- канальный и Р- канальный MOS FET, JFET транзистор, маломощный тиристор, симистор. Измерение сопротивления, емкости, индуктивности, прямого напряжения перехода в диодах и биполярных транзисторах, емкости и порогового напряжения затвора в полевых транзисторах, обнаружение защитных диодов в транзисторах. Поставляется без корпуса (КІТ). Питание 9V от батареи типа "Крона" (не входит в комплект поставки). Разряжайте конденсаторы до тестирования! Технические характеристики тестера полупроводников и измерителя RLC, ESR. Измеритель индуктивности 1. Тест полупроводников, конденсаторов, резисторов, индуктивностей производится за одну операцию – нажатием кнопки. Автоматическое выключение после теста. 2. Потребляемый ток после отключения не более 20nA . 3. Диапазон измерения резисторов составляет от 0,1 Ом до 50M Ом с точностью 1%. 4. Диапазон измерения емкости составляет от 25рF до 100mF и точностью 1%. 5. Диапазон измерения индутивности составляет от 0,01mН до 20H и точностью 1%. Тестер транзисторов 6. Автоматическое определение NPN, PNP биполярных транзисторов , N -канальных и Р- канальных MOS FET, JFET транзисторов , диодов, двойных диодов, тиристоров небольшой мощности, однонаправленных и двунаправленных тиристоров. 7. Автоматическое определение цоколевки полупроводников. 8. Измерение в биполярных транзисторах коэффициента усиления и порогового напряжения база – эмиттер. 9. Обнаружение защитных диодов в биполярных и MOS FET транзисторах. Мультитестер полупроводников 10. Идентификация транзисторов Дарлингтона. 11. Измерение порогового напряжения и емкости затвора в MOS FET транзисторах. 12. Измерение ESR конденсатора с разрешением 0,01 Ом. ESR измеритель 13. Измерение двойных резисторов (потенциометров) с отображение на дисплее символов резистора. 14. Отображение символов двойных диодов с измерением прямого напряжение каждого перехода. 15. Определение комбинированных светодиодов. 16. Определение напряжения пробоя в стабилитронах с напряжением не более 4.5V.