Напольная подставка для проектора Xiaomi с быстросъемным поворотным основанием 34 см, регулировкой наклона на 360° по горизонтали и на 20° по вертикали, встроенным удлинительным кабелем питания.

Технические характеристики изделия:

Бренд: MI

Название товара: Подставка для проектора (напольная версия)

Модель: XMTYZJ01YS

Габариты и вес:

Диаметр основания: 340 мм (34 см)

Высота изделия (без учета винтов): 800 мм

Рабочая высота: регулируется в диапазоне от 600 до 800 мм.

Вес нетто: 5,6 кг

Материал:

Основной корпус изготовлен из алюминиевого сплава с сегментированной конструкцией для обеспечения легкости и прочности.

Грузоподъемность:

Выдерживает нагрузку до 5,0 кг (испытания проводились при угле наклона 12° в качестве предельного значения).

База:

Большое основание диаметром 340 мм и весом 4,5 кг обеспечивает стабильную и надежную опору.

Монтаж:

Оснащен винтовым разъемом 1/4 дюйма, совместимым с проекторами и цифровыми устройствами весом ≤5 кг.

Поворот на 360° по горизонтали и регулировка наклона на 20° для гибкого позиционирования.

Особенности конструкции:

Новая конструкция быстросъемного карданного подвеса обеспечивает легкую и быструю установку и снятие проектора.

Встроенный удлинительный кабель питания внутри опорной штанги предотвращает оголение и запутывание кабеля, поддерживая порядок в зоне просмотра.

Конструкция с быстрым подключением повышает удобство использования и стабильность.

Содержимое упаковки:

Шарнирная головка стабилизатора ×1

Быстросъемная пластина ×1

Удлинительный кабель питания ×1

Силиконовая пробка ×1

Ручной винт ×1

Шайба ×1

Руководство пользователя ×1

Основание ×1

Опорный стержень ×1

Удлинительный стержень ×1

Примечания:

Совместимость с винтовым разъемом 1/4 дюйма зависит от конкретной модели устройства.

Цвет, изображения, структура и световые эффекты товара приведены только для озна ознакомления; внешний вид фактического товара может отличаться.

Данные получены из лаборатории MI; фактические результаты могут отличаться в зависимости от условий тестирования и методов измерения.